개요
DACrux TEST는 반도체 Test 공정 최적화에 필요한 모든 YMS(Yield Management System) 솔루션을 제공합니다. DACrux TEST를 통해 수율 데이터를 체계적으로 관리, 분석할 수 있습니다. 또한 Test 결과에 대한 실시간 분석 및 리포팅을 통해 이상수율에 대한 즉각적인 조치를 할 수 있도록 합니다. DACrux TEST는 SEMI standard인 IE422 SPEC을 준수하는 표준화 된 데이터를 제공하기 때문에 타 데이터들과의 연계분석이 가능하고, 이는 향후 수율 모니터링의 기반을 제공합니다. 또한 MES(Manufacturing Execution System)와 연계할 경우 더 큰 효과를 볼 수 있습니다.
 
 
특징

∙ Operation
- 오퍼레이터 및 엔지니어의 명시적 업무지침 관리
- 작업자 에러 방지
- 주관적 업무에 대한 오류 방지
- 정형화되고 반복적인 수작업 감소
- 프로세싱, 엔지니어링의 효율 및 생산성 극대화
- 데이터수집 자동화에 따른 정보의 정확성 제공
 
∙ Analysis
- 영상분석(Visual Analysis) 제공으로 정확한 현상 파악
- Test & Defect 데이터의 체계적 수집
- 수율 관리 및 분석
- 수율을 저하시키는 주요 요인들의 관리
- 수율 저하 요인분석으로 인한 수율모델링
 
∙ Reporting
- 수율의 실시간 모니터링
- Yield Ripple에 대한 즉각적인 경보
- Yield Ripple에 대한 빠른 프로세스 피드백
- 생산량 및 수율의 적절한 조정능력 제공
- 의사결정의 지표가 되는 분석 보고서 제공