DACrux / TEST °³¿ä

Operation
Operator & EngineerÀÇ ¸í½ÃÀû ¾÷¹«Áöħ
Human Error ¹æÁö
ÁÖ°üÀû ¾÷¹«¿¡ ´ëÇÑ ¿À·ù ¹æÁö
Á¤ÇüÈ­µÇ°í ¹Ýº¹ÀûÀÎ ¼öÀÛ¾÷ °¨¼Ò
Processing, EngineeringÀÇ È¿À² ¹× »ý»ê¼º ±Ø´ëÈ­
µ¥ÀÌÅÍ ¼öÁýÀÇ ÀÚµ¿È­¿¡ µû¸¥ Á¤º¸ÀÇ Á¤È®¼º Á¦°ø

Analysis
¿µ»ó ºÐ¼®(Visual Analysis)ÀÇ Á¦°øÀ¸·Î Á¤È®ÇÑ Çö»ó ÆÄ¾Ç
Test & Defect DataÀÇ Ã¼°èÀû ¼öÁý
¼öÀ² °ü¸® ¹× ºÐ¼®
¼öÀ²À» ÀúÇϽÃŰ´Â ÁÖ¿ä ¿äÀεéÀÇ °ü¸®
¼öÀ² ÀúÇÏ ¿äÀκм®À¸·Î ÀÎÇÑ Yield Modeling

Reporting
¼öÀ²ÀÇ ½Ç½Ã°£ ¸ð´ÏÅ͸µ
Yield Ripple¿¡ ´ëÇÑ Áï°¢ÀûÀÎ °æº¸
Yield Ripple¿¡ ´ëÇÑ ºü¸¥ ÇÁ·Î¼¼½º Çǵå¹é
»ý»ê·® ¹× ¼öÀ²ÀÇ ÀûÀýÇÑ Á¶Á¤´É·Â Á¦°ø
ÀÇ»ç°áÁ¤ÀÇ ÁöÇ¥°¡ µÇ´Â ºÐ¼® Reporting


DACrux / TEST Á¦¾Èó

DACrux/TEST´Â ¹ÝµµÃ¼ TEST Process °øÁ¤À» °¡Áö°í ÀÖ´Â FABÀ̳ª
YMS¸¦ ÇÊ¿ä·Î ÇÏ´Â Àü¹® TEST Business »ç¾÷ü¿¡ ¿©·¯ ÇüÅÂÀÇ Module ±¸¼ºÀ¸·Î Àû¿ëÀÌ °¡´É ÇÕ´Ï´Ù.

¹ÝµµÃ¼ DesignÀ» Àü¹®À¸·Î ÇÏ´Â FAB Less ¹ÝµµÃ¼
Foundry ¹× ÀÚ»ç Device¸¦ Àü¹®À¸·Î »ý»êÇÏ´Â FAB
¹ÝµµÃ¼ TEST¸¦ Àü¹®À¸·Î ÇÏ´Â TEST Àü¹®¾÷ü


DACrux / TEST ±â´ëÈ¿°ú

½Å±Ô DeviceÀÇ ¼öÀ² Á¶±â ¾ÈÁ¤È­¿¡ µû¸¥ ¼öÀÍ ±Ø´ëÈ­
¼öÀ² À̽´ ¹× ºÐ¼®½Ã°£ °¨¼Ò¿¡ µû¸¥ ¼öÀ² ¼Õ½Çºñ¿ë Àý°¨
Data ¼öÁý ´Ü°èºÎÅÍ ºÐ¼®±îÁöÀÇ ÀϰüÀûÀÎ YMS½Ã½ºÅÛ ±¸Ãà
Á¤ÇüÈ­µÇ°í ¹Ýº¹ÀûÀÎ ¼öÀÛ¾÷ÀÇ °¨¼Ò
¼öÀ² ¹× Tester UtilizationÀÇ Á¤º¸ °øÀ¯
Handler, Prober, TesterÀÇ °¡µ¿·ü ºÐ¼® ¹× Monitoring
°í°´¿¡°Ô Á¦Ç°ÀÌ Àü´ÞµÇ±â Àü¿¡ ǰÁú¿¹¹æ °¡´É
°í°´¿¡ ´ëÇÑ ½Å¼ÓÇÑ Á¤º¸Á¦°ø -> °í°´ ¸¸Á·µµ Áõ°¡
º¯È­¿¡ ´ëÇÑ ¹ÎøÇÑ ´ëÀÀ·Â ¹× À¯¿¬¼º
Á¤È®ÇÏ°í ¾ÈÁ¤¼º ÀÖ´Â Á¤º¸ Á¦°ø
¼öÀ² Çâ»ó¿¡ µû¸¥ ROI Áõ°¡
Yield Modeling °¡´É